X-RAY射線牛津儀器熒光光譜儀

簡要描述：X-RAY射線牛津儀器熒光光譜儀是無損測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，快速簡潔只需要10秒即可得出測量結果，是質(zhì)量控制、節(jié)約成本的Z佳檢測工具。
奔藍科技供應英國牛津儀器所有零配件：
鍍層測厚儀類：牛津光管、高壓包、接收器、鍍層標準片、Z軸控制板、24V電源等。。。
銅厚測厚儀類：孔銅探頭、面銅探頭、孔銅標準片、面銅標準片等。。。

產(chǎn)品型號：MAXXI 5
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2022-12-07
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鍍層測厚儀

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詳細介紹

X-RAY射線牛津儀器熒光光譜儀

品牌：牛津儀器型號：MAXXI5 產(chǎn)地：英國

一、X-RAY射線牛津儀器熒光光譜儀功能

采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
鍍層層數(shù)：多至4層。
測量點尺寸：0.06mm x 0.06mm、0.05mm x 0.15mm、φ0.1mm、φ0.2mm圓形或矩形
測量時間：通常30秒。
樣品zui大尺寸：600mm(W) x 500mm(D) x 170mm(H)
測量誤差：通常小于5%，視樣品鍍層厚度及測試點大小等具體情況而定。
可測厚度范圍：通常0.01微米到幾十微米，視樣品組成密度和鍍層結構而定。

二、特點和數(shù)據(jù)

采用基本參數(shù)法校準，可在無薄膜標樣情況下生成校準曲線以完成測量。
X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之，如果是從下至上的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無法調(diào)整Z軸距離，導致測量光程的變化，引起測量的誤差。例如（舉例不同距離導致的誤差數(shù)據(jù)）。
開放的校準模式，用戶可自行建立校準曲線不受儀器廠家限制。
提供符合NIST美國國家標準技術協(xié)會要求，A2LA美國實驗室協(xié)會認證的標準樣品，可驗證測量結果并讓實驗數(shù)據(jù)具有可追溯性。
Windows 7操作系統(tǒng)，數(shù)據(jù)可存儲，轉(zhuǎn)移，并可一鍵生成包含測量數(shù)據(jù)、統(tǒng)計值、樣品圖片和趨勢圖等要素的報告（word格式）
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